電容器的內(nèi)熔絲保護(hù)是電容器內(nèi)部每個(gè)元件串接1根熔絲，元件先并聯(lián)后串聯(lián)，電容器間進(jìn)行并聯(lián)和串聯(lián)連接，電容器的容量較大。優(yōu)點(diǎn)是少量元件擊穿，電容器仍可繼續(xù)運(yùn)行；缺點(diǎn)是損耗相對(duì)大一些，電容器工藝相對(duì)復(fù)雜。

       西安西容內(nèi)熔絲電容器的保護(hù)原理：當(dāng)某一個(gè)元件因故障擊穿時(shí)，與之并聯(lián)的其他將向其放電，即利用此高頻的放電電流使其熔斷。此時(shí)，完好元件的熔絲不應(yīng)熔斷，電容器中的完好元件仍可繼續(xù)運(yùn)行。電容量的損失之所以很小，是因?yàn)樵?shù)量眾多，電容器組內(nèi)其他電容器單元不受影響，只將電容器組的一個(gè)極小部分切除，所以無(wú)功功率輸出損失可忽略不計(jì)。一個(gè)電容器元件的故障通常在接近電壓波峰處發(fā)生，即電流趨向于零時(shí)，由于于儲(chǔ)存于并聯(lián)元件中的能量釋放，使熔絲動(dòng)作極快，故障元件在瞬間斷開(kāi)，一般在幾毫秒以下。故障發(fā)生后，流經(jīng)熔絲的電流大大增強(qiáng)至標(biāo)稱電流的15~20倍左右。

       內(nèi)熔絲動(dòng)作之后，由于串聯(lián)段有眾多元件并聯(lián)，其余元件上的電壓只是有限度地增高，因此，受影響不大，電容器可正常運(yùn)行。由于將內(nèi)熔絲嵌置于相鄰元件之間，因此其他熔絲不受發(fā)生動(dòng)作內(nèi)熔絲的影響，不會(huì)加大損失率。

       由于內(nèi)熔絲在瞬間將故障元件斷開(kāi)，電容器內(nèi)部不會(huì)產(chǎn)生持續(xù)電弧，因而排除了外殼爆裂的危險(xiǎn)。外殼爆裂一般是由于電弧產(chǎn)生氣體累積膨脹造成的。內(nèi)熔絲電容器的熔絲動(dòng)作范圍在外殼破裂曲線安全區(qū)域范圍內(nèi)。

       使用內(nèi)熔絲最大的優(yōu)點(diǎn)是熔絲斷開(kāi)和不平衡保護(hù)相協(xié)調(diào)，檢測(cè)故障可以設(shè)置預(yù)警和跳閘水平，內(nèi)熔絲電容器應(yīng)用較廣，可靠性較高。